测定化合物的荧光量子产率可以使用以下两种方法：
比较法：将待测荧光样品与已知荧光量子产率的参考样品进行比较，通过测量它们的荧光强度来计算待测样品的荧光量子产率。这种方法简单易行，但需要准备标准样品，并且对测量条件要求较高，如激发光强度、检测器灵敏度等。
相对法：将待测荧光样品与参考样品进行比较，通过测量它们的荧光光谱强度、寿命等参数来计算待测样品的荧光量子产率。这种方法不需要准备标准样品，但需要确保参考样品的荧光量子产率已知且与待测样品相似。
另外，还有一种绝对法，通过测量荧光样品的辐射能量和吸收能量来计算荧光量子产率。这种方法需要精确测量吸收光谱和荧光光谱的面积，并考虑到光损耗和仪器响应等因素，计算得到荧光量子产率。绝对法测量结果准确可靠，但实验操作较为复杂。
