静电放电试验(ESD)是指将一个物体带电,然后将其移动到另一个物体上,这样就会在两个物体之间形成静电放电.这种试验主要用于测试电子元器件对静电放电的敏感性。通过这种试验，可以测量电子元器件在静电放电条件下的损伤程度,并可以用来评估它们的耐电静电能力.
静电放电试验可以使用不同的方法进行,其中常用的方法有触发式静电放电(TESD)和接触式静电放电(CESD)。
触发式静电放电(TESD)是指通过触发器来产生静电放电,以测量电子元器件对高电压静电放电的敏感性。
接触式静电放电(CESD)是指通过接触器来产生静电放电,以测量电子元器件对低电压静电放电的敏感性。
在这些试验中,通常会使用专门的设备和标准,以确保试验的可重复性和准确性。同时，在进行静电放电试验之前，需要保证环境条件稳定。
另外,静电放电试验还可以使用不同的参数进行,其中包括放电电压、放电电流、放电能量等,来测试电子元器件在不同静电放电条件下的敏感性.
举个例子，通过测量放电电压来评估电子元器件对高电压静电放电的敏感性,而通过测量放电电流来评估电子元器件对低电压静电放电的敏感性。
静电放电试验的结果通常以电子元器件的功能状态和结构状态为指标，来评估其对静电放电的耐受性，并可以为设计和制造电子元器件和电子系统提供有关信息。
