传导抗扰度试验失败原因及对策的探讨
在进行电子设备的传导抗扰度测试时，GB/T 17626.6标准规定了设备对射频电磁骚扰的抗扰度要求，试验通常在屏蔽室中进行。ES-608射频传导干扰模拟测试系统，由容测电子自主研发，具有高效注入效率和多种测试方法支持。
然而，尽管有先进的测试系统，传导抗扰度测试仍可能出现失败。当测试失败时，关键在于识别干扰进入设备的途径和敏感点。这可能通过耦合/去耦网络、电流钳或电磁钳等不同方法注入干扰，干扰路径会因电缆类型和频率不同而变化。例如，低频干扰主要通过电缆直接进入，高频干扰可能通过空间辐射。
测试失败的原因分析涉及检查电缆屏蔽、接口滤波和内部电路的抗扰性。对于单一或多种接口的EUT，需根据测量结果定位问题，可能涉及到电缆性能改进、滤波器升级或内部电路的调整。容测电子提供全面的解决方案，包括优化电缆处理、安装合适的滤波器和强化内部电路抗扰设计。
总之，传导抗扰度试验失败的对策在于系统性地检查和改善外部电缆、接口滤波和内部电路设计，以确保设备对射频干扰的有效抵御。容测电子的专业设备和技术支持在解决这类问题中发挥关键作用。
