在通信领域的精密测试中，众多屏蔽效率试验方法犹如璀璨的繁星，其中，混响室法、三同轴法、吸收钳法、线注入法、电容电桥法和GTEM 小室法等，如同璀璨的坐标，为我们揭示了电缆、连接器及组件性能的神秘面纱。
1. 混响室法：揭示电磁场中的屏蔽魔力:
混响室法，如一盏明灯，将被测器件置于均匀电磁场的怀抱中，通过测量感应信号电平，它在电缆和微波元件的屏蔽衰减测量中独树一帜。其优势在于无理论频限，可在实际工程中达到40 GHz，但对低频下限，它需要庞大的空间和高昂的造价，却能展现出惊人的150 dB动态范围。
2. 三同轴法：经典与创新的碰撞:
经典三同轴法</：测量表面转移阻抗的得力工具，适用于电缆组件的屏蔽衰减。如图2所示，将被测线缆置于同轴管中，实现精确测量。
“管中管扩展法</：为了解决射频连接器短组件的测量难题，IEC 62153-4-7引入了这一创新方法，通过金属延长管延伸电长度，扩大测量频率范围，见图3。
三轴仪法</：直径较大或不规则组件的救星，通过非铁磁性金属壳体扩展测量范围，适用于直径大于30 mm的组件，如图4a和图4b所示。
3. 功率吸收钳法：长线测量的秘密武器:
功率吸收钳法，如图5所示，通过近端和远端测量，为平衡电缆的耦合衰减和屏蔽衰减提供关键数据，对于对称电缆，需要区分差模和共模骚扰功率的测量。
4. 线注入法：转移阻抗的精细探针:
线注入法通过外部和内部电路，如图6所示，精确测量屏蔽电缆的转移阻抗，揭示其内部的电性能。
5. 电容电桥法与脉冲法：精密测量的双剑:
电容电桥法</：在1 kHz频率下，测量试样内部与金属管的耦合导纳，如图7所示，需精确校准屏蔽层长度。
脉冲法</：通过脉冲信号和示波器的巧妙配合，测量穿透电容，如图8a和b所示，确保测量的精确性。
每个测试方法都如同通信世界中的精密工具，为确保信号的纯净度和传输效率，它们在设计与应用中起着至关重要的作用。通过这些科学严谨的方法，我们得以深入了解电缆与组件的屏蔽性能，为通信技术的提升保驾护航。
